
●ご使用中の欠陥検査装置の欠陥座標マップと連携させることができます。表示されたマップ上の欠陥をクリックするか欠陥IDを入力することで、欠陥場所へステージが移動します。光学顕微鏡による観察で対象欠陥の解析に役立ちます。SEMやFIB観察等の次のステップへスムーズに移行できます。
- ・スムーズに欠陥観察
- ・5種類のアライメント機能で位置決め精度を向上
- ・顕微鏡の制御も統合可能
- ・デジタルカメラ制御も統合可能
様々なメーカー製欠陥検査装置から出力されたマップを共有し、光学顕微鏡上で簡単にターゲットを観察するためのシステムです。光学顕微鏡の明視野、暗視野、微分干渉などの検鏡方法を用いてターゲットを観察することが可能です。4インチ(100mm)ウエハ~12インチ(300mm)ウエハまで実績があり、へき開されたウエハもダイ基準でアライメント可能です。また、要望に合わせてカスタマイズ対応します。
●ご使用中の欠陥検査装置の欠陥座標マップと連携させることができます。表示されたマップ上の欠陥をクリックするか欠陥IDを入力することで、欠陥場所へステージが移動します。光学顕微鏡による観察で対象欠陥の解析に役立ちます。SEMやFIB観察等の次のステップへスムーズに移行できます。
●コントロールウインドウ
●マップリスト
光学顕微鏡 | 各メーカー実績あり。ソフトウエア制御する場合は要打合せ。 |
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オリンパス:MX63L / MX61L / BX63M / BX51 | |
ニコン:L300N / L300ND /L200ND | |
ライカ:Leica DM12000 M | |
デジタルカメラ | 制御する場合はカメラリンク型を推奨。連動させない場合は種類問わず。 |
自動ステージ | メルツホイザー社SCANシリーズ及びSCAN plusシリーズ |
電動Zフォーカス | メルツホイザー社MFDシリーズ |
レーザマーキング装置 | フォトニックインストゥルメンツ・マイクロポイント(オプション) |
除振台 | Vistek除振プラットフォーム、アクティブ除振台VAIS-45 |
システム構成は詳細お打ち合わせの上決定いたします。まずはご要望をお聞かせ下さい。
カタログダウンロード:光学顕微鏡自動レーザマーキングシステム キャラクターマーカー